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描述：二維X射線衍射儀有很多方面的應(yīng)用，如物相分析、晶體結(jié)晶度測定、晶體的取向分析、薄膜厚度的測定等方面。實驗中使用二維探測器可記錄二維象、二維衍射花樣的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析和解釋。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-11-08訪問量
2277| 品牌 | Tongda/通達(dá) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 多晶衍射儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,綜合 |
二維X射線衍射儀有很多方面的應(yīng)用，如物相分析、晶體結(jié)晶度測定、晶體的取向分析、薄膜厚度的測定等方面。實驗中使用二維探測器可記錄二維象、二維衍射花樣的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析和解釋。
二維X射線衍射儀優(yōu)勢：
1.X射線穿透深度連續(xù)可調(diào)
2.可觀察不同取向晶面的分布情況
3.纖維、薄膜、粉末等樣品的取向分布
4.晶格畸變、晶疇尺寸等結(jié)構(gòu)特征的分析
探測器（近距影像圖片）
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